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J-GLOBAL ID:201102204396167390   整理番号:11A1159965

レコード高周波特性をもつ60nm自己整合ゲートInGaAs HEMT

60nm Self-Aligned-Gate InGaAs HEMTs with Record High-Frequency Characteristics
著者 (3件):
資料名:
巻: 2010  ページ: 696-699  発行年: 2010年 
JST資料番号: C0829B  ISSN: 0163-1918  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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非合金MoベースOhm接触及び非常に低い寄生容量ゲート設計の,新しい自己整列ゲートInGaAs HEMTを実証した。この新しいプロセスは,接触抵抗及びソース抵抗の非常に低い値,及びレコード高周波特性を提供した。提案した素子アーキテクチャは,MOS型素子を達成するためのゲートスタックへの高Kゲート誘電体の組み込みを可能にした。とくに,ゲート長60nmの素子は,VDS=0.5Vにおいて2.1mS/μmの相互コンダクタンス,VDS=0.6VにおいてfT=580GHz,及びfmax=675GHzを示した。
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分類 (1件):
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トランジスタ 

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