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J-GLOBAL ID:201102205370696919   整理番号:11A1093127

c軸に沿って成長させたSiC基板のMgB_2厚膜の研究

THE STUDY OF SIC SUBSTRATE MgB_2 THICK FILMS GREW ALONGcAXIS
著者 (3件):
資料名:
巻: 32  号:ページ: 12-15  発行年: 2010年 
JST資料番号: C2352A  ISSN: 1000-3258  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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ハイブリッド物理化学気相成長法(HPCVD)の技術を用いることにより,c軸に沿って成長させたSiC基板上のMgB_2厚膜を調製した。膜厚は8μmであった。電気測定から,Tc(開始)が41.4Kであることを示した,遷移幅は0.5K,残留抵抗比率(RRR)は7付近であった。磁気測定から,臨界電流密度は,自己場内において5Kで1.7×106A/cm2であった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST
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分類 (2件):
分類
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超伝導体の物性一般  ,  その他の無機化合物の薄膜 
タイトルに関連する用語 (5件):
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