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J-GLOBAL ID:201102207235119955   整理番号:11A1000593

ラマン分光法によるPVモジュール封止材の非破壊劣化分析

Non-destructive degradation analysis of encapsulants in PV modules by Raman Spectroscopy
著者 (4件):
資料名:
巻: 95  号:ページ: 1686-1693  発行年: 2011年07月 
JST資料番号: D0513C  ISSN: 0927-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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c-SiベースのPVモジュールの封止材の劣化挙動を分析するための強力なツールとしてのラマンプローブ分光法が報告される。PVモジュールの経年劣化中の材料変化をフォローするために,非破壊で迅速な試験方法が必要とされる。エチレン酢酸ビニル(EVA)カプセル封入の2つのタイプのc-Si PVモジュールが,屋内で湿った加熱条件(85%r.h./85%°C)と,UV/水分結合条件下で,それぞれ経年化された。各タイプの非経年基準モジュールと併せて,経年化したモジュールが,ラマン分光法により分析された。封止材の劣化は観測され,EVAラマンピークの強度変化と同様に,増加する蛍光バックグラウンドをもたらした。経年化条件と同様に,セル上の位置に左右されるEVA CHの振動強度比率と蛍光強度の側部の非一様性が観測でき,それは,封止材中の水の拡散の指標かもしれない。Copyright 2011 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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