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J-GLOBAL ID：201102207641456466   整理番号：11A1035969

非接触型動的走査型力顕微鏡法におけるコントラスト反転 なにが高く,何が低いのか

Contrast inversion in non-contact Dynamic Scanning Force Microscopy: What is high and what is low?

著者 (5件)： PALACIOS-LIDON E. (Universidad de Murcia, Murcia, ESP) ,  COLCHERO J. (Universidad de Murcia, Murcia, ESP) ,  MUNUERA C. (Consejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC), Cerdanyola del Valles, ESP) ,  OCAL C. (Consejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC), Cerdanyola del Valles, ESP) ,  MUNUERA C. (Max-Planck-Inst. fuer Metallforschung, Stuttgart, DEU)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 110  号： 7  ページ： 789-800  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： 非接触 ,  走査型力顕微鏡法 ,  コントラスト ,  反転