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J-GLOBAL ID：201102208646963028   整理番号：11A0823583

シリカベースナノフィラのラマンスペクトルおよびFTIRスペクトル測定による解析

On the use of Raman and FTIR Spectroscopy for the Analysis of Silica-based Nanofillers

著者 (3件)： YEUNG C. (Univ. Southampton, Southampton, GBR) ,  GHERBAZ G. (Univ. Southampton, Southampton, GBR) ,  VAUGHAN A. S. (Univ. Southampton, Southampton, GBR)
資料名： Annual Report. Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena  (Annual Report. Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena)
巻： 2010 Vol.2  ページ： 526-529  発行年： 2010年 
JST資料番号： D0693A  ISSN： 0084-9162  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 種々の変性を行った粒状フィラの表面の化学的性質を明らかにするため,ナノ複合材料の界面領域の性質を振動スペクトル測定法により調べた。ナノおよびマイクロシリカに種々のシラン処理を施した場合を検討した。ラマンスペクトル測定では,機能化レベルの定量化を行えるが,絶対濃度が求められないためフーリエ変換赤外分光(FTIR)スペクトル測定を用いてより定量的データの取得を図った。しかし,FTIRスペクトル測定では,異常に高い見かけ濃度が測定されることがあり,粒子分散系中で従来のランベルト・ベールの法則で想定されるより複雑な相互干渉を生じている可能性がある。

シソーラス用語： 充填剤 ,  *ナノ複合材料 ,  Ramanスペクトル ,  FTIR分光法 ,  表面性状 ,  化学的性質 ,  振動スペクトル ,  振動解析 ,  *絶縁材料 ,  *絶縁体

分類 (1件)： 絶縁材料  (NA04030W)

タイトルに関連する用語 (3件)： ラマンスペクトル ,  FTIRスペクトル ,  解析