文献

J-GLOBAL ID：201102210863464930   整理番号：11A1245472

走査AQUID顕微鏡法によるNiベース超合金Udimet520における劣化の検出

Detecting degradation in Ni-based superalloy Udimet520 with scanning SQUID microscopy

著者 (7件)： ISAWA K. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN) ,  IGARASHI Y. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN) ,  HAYASHI M. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN) ,  SATO F. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN) ,  OGOTA S. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN) ,  HASEGAWA S. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN) ,  MIYAGUCHI K. (Tohoku Electric Power Co., Inc., Sendai, JPN)
資料名： Physica C. Superconductivity and Its Applications  (Physica C. Superconductivity and Its Applications)
巻： 470  号： 20  ページ： 1529-1533  発行年： 2010年11月01日 
JST資料番号： T0580A  ISSN： 0921-4534  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： 走査 ,  顕微鏡法 ,  Ni ,  超合金