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J-GLOBAL ID:201102210935682473   整理番号:11A0562955

反応性同時スパッタリング法によるチタン及び酸化バナジウム薄膜の解析

Analysis of titanium and vanadium oxide thin film by method of reactive co-sputtering
著者 (4件):
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巻: 7658  号: Pt.1  ページ: 76581O.1-76581O.5  発行年: 2010年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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チタン-バナジウム酸化物は電子素子材料,電極材料,触媒,他への応用が期待される。Ti1-xVxOは元素ターゲットからの反応性同時スパッタリング法により評価できる。本研究では,TiとVの同時反応性スパッタを理論及びBergモデルに基づくシミュレーションにより調べた。蒸着膜のヒステリシス効果と中間組成を,異なるターゲット電流の関数として予測した。各ターゲットの電流を変えて,化学量論組成の異なる薄膜が得られ,またそれを最適化できることを示した。
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 

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