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J-GLOBAL ID：201102211118152132   整理番号：11A0412232

XFEL用クライオ試料照射装置を用いたX線回折実験

著者 (21件)： 中迫雅由 (慶応大) ,  中迫雅由 (理研) ,  山本雅貴 (理研) ,  西野吉則 (理研) ,  西野吉則 (北大 電子科研) ,  高山裕貴 (慶応大) ,  高山裕貴 (理研) ,  坂本啓太 (慶応大) ,  児玉渉 (慶応大) ,  児玉渉 (理研) ,  鈴木茂之 (慶応大) ,  鈴木茂之 (理研) ,  松井夕花 (慶応大) ,  松井夕花 (理研) ,  米倉功治 (理研) ,  眞木さおり (理研) ,  引間孝明 (理研) ,  高橋幸夫 (大阪大 工) ,  久保秀人 (大阪大 工) ,  堤良輔 (大阪大 工) ,  榊茂之 (大阪大 工)
資料名： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 24th  ページ： 62  発行年： 2011年01月07日 
JST資料番号： L1310A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線回折 ,  低温 ,  照射装置 ,  *X線レーザ ,  自由電子レーザ ,  生体試料 ,  立体構造 ,  *X線自由電子レーザ

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (6件)： XFEL ,  イオ ,  試料 ,  照射装置 ,  X線回折 ,  実験