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J-GLOBAL ID:201102212574303807   整理番号:11A1197160

pCTLに基づくループ最適化のための試験事例の自動生成

Automatic Generation of Test Cases for Loop Optimizations Based on pCTL
著者 (3件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 436-440  発行年: 2010年 
JST資料番号: C2136A  ISSN: 1000-1220  CODEN: XWJXEH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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ループ最適化のための試験は,モデムコンパイラ品質に対して重要である。しかしながら,手動でコード化した試験事例は,低生産性に結びつき,そして,試験事例の自動生成は,ループ最適化に対して,精度不足である。したがって,著者らは,パラメータ化条件付き時系列論理(pCTL)に基づき,ループ最適化のための試験事例の自動生成を提案した。gcc-4.1.1のカバレージ試験上の実験により,著者らは,特定のループ最適化に対する精度をもつ試験事例を生成することができ,そして,少数の試験事例の採用によって,特定のカバレージを達成した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST
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