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J-GLOBAL ID：201102219297543212   整理番号：11A1638283

硬X線光電子放出により検出されるLaNiO₃エピタキシャル超薄膜の絶縁状態

Insulating state of ultrathin epitaxial LaNiO₃ thin films detected by hard x-ray photoemission

著者 (18件)： GRAY A. X. (Univ.California, California, USA) ,  GRAY A. X. (Lawrence Berkeley National Lab., California, USA) ,  JANOTTI A. (Univ.California, California, USA) ,  SON J. (Univ.California, California, USA) ,  LEBEAU J. M. (Univ.California, California, USA) ,  UEDA S. (National Inst. Materiais Sci., Hyogo, JPN) ,  YAMASHITA Y. (National Inst. Materiais Sci., Hyogo, JPN) ,  KOBAYASHI K. (National Inst. Materiais Sci., Hyogo, JPN) ,  KAISER A. M. (Univ.California, California, USA) ,  KAISER A. M. (Lawrence Berkeley National Lab., California, USA) ,  SUTARTO R. (Univ. British Columbia, British Columbia, CAN) ,  SUTARTO R. (Univ. Saskatchewan, Saskatchewan, CAN) ,  WADATI H. (Univ. British Columbia, British Columbia, CAN) ,  SAWATZKY G. A. (Univ. British Columbia, British Columbia, CAN) ,  VAN DE WALLE C. G. (Univ.California, California, USA) ,  STEMMER S. (Univ.California, California, USA) ,  FADLEY C. S. (Univ.California, California, USA) ,  FADLEY C. S. (Lawrence Berkeley National Lab., California, USA)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 84  号： 7,Pt.A  ページ： 075104.1-075104.6  発行年： 2011年08月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： ニッケル酸塩 ,  ランタン化合物 ,  *硬X線 ,  *光電子放出 ,  *エピタクシー ,  超薄膜 ,  透過型電子顕微鏡 ,  基板 ,  アルミン酸塩 ,  タンタル酸塩 ,  ストロンチウム化合物 ,  第一原理 ,  放射光施設
準シソーラス用語： SPring-8

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 硬X線 ,  光電子放出 ,  LaNiO3 ,  エピタキシャル ,  超薄膜 ,  絶縁