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J-GLOBAL ID：201102221489022342   整理番号：11A0628212

軌道ステーションMir上のソーラアレイ表面の変化

Changes of Solar Array Surfaces on Orbital Station Mir

著者 (6件)： SKURAT Vladimir E. (Russian Acad. Sci., Moscow, RUS) ,  LEIPUNSKY Ilya O. (Russian Acad. Sci., Moscow, RUS) ,  VOLKOV Ilya O. (Russian Acad. Sci., Moscow, RUS) ,  PSHECHENKOV Pavel A. (Russian Acad. Sci., Moscow, RUS) ,  BERIOZKINA Nadezhda G. (Russian Acad. Sci., Moscow, RUS) ,  GATSENKO Lenina S. (Res. and Dev. Enterprise “Kvant”, Moscow, RUS)
資料名： Journal of Spacecraft and Rockets  (Journal of Spacecraft and Rockets)
巻： 48  号： 1  ページ： 53-58  発行年： 2011年01月 
JST資料番号： A0461B  ISSN： 1533-6794  CODEN： JSCRAG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 10.5年低地球高度軌道で運用された後,1998年にMiRから地球に戻った太陽アレイの数片(前面および後面の保護ガラス)を,SEM,ローカルXMAおよびXPSによって検討した。太陽アレイ表面の変化は,Mirステーションの外側大気から堆積した厚さ約3μmの汚染層による。汚染層は,ほぼ球状の粒子(0.3~0.5μm)である。加えて,デブリ,小流星物質衝突で生じた表面損傷(5~20μm)である。汚染堆積の主成分は炭素(XPSで3つの化学構造が観察されている。)とシリコン(2つの化学構造:ニ酸化ケイ素と線形有機珪素)である。炭化珪素の存在もあり得る。

シソーラス用語： アレイ ,  *宇宙ステーション ,  *X線光電子分光法 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子プローブX線分析 ,  分子構造 ,  二酸化ケイ素 ,  炭化ケイ素 ,  ガラス ,  堆積 ,  *汚染物質 ,  *宇宙環境 ,  *低高度軌道
準シソーラス用語： SEM【顕微鏡】 ,  XPS ,  X線マイクロアナリシス ,  *ソーラアレイ ,  ミール ,  化学構造

分類 (1件)： 飛しょう体の設計・構造  (QK04010H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 軌道 ,  ステーション ,  MIR ,  ソーラアレイ