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J-GLOBAL ID：201102222399243524   整理番号：11A1222197

光過渡回折格子分光法を用いるnドープGaAs/AlGaAs量子井戸における電子-正孔フリクションの測定

Measurement of Electron-Hole Friction in an n-Doped GaAs/AlGaAs Quantum Well Using Optical Transient Grating Spectroscopy

著者 (8件)： YANG Luyi (Univ. California, California, USA) ,  YANG Luyi (Lawrence Berkeley National Lab., California, USA) ,  KORALEK J.D. (Lawrence Berkeley National Lab., California, USA) ,  ORENSTEIN J. (Univ. California, California, USA) ,  ORENSTEIN J. (Lawrence Berkeley National Lab., California, USA) ,  TIBBETTS D.R. (Sandia National Lab., New Mexico, USA) ,  RENO J.L. (Sandia National Lab., New Mexico, USA) ,  LILLY M.P. (Sandia National Lab., New Mexico, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 106  号： 24  ページ： 247401.1-247401.4  発行年： 2011年06月17日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： スペクトロスコピー ,  *ヒ化ガリウム ,  化合物半導体 ,  N型半導体 ,  ドーピング ,  *ヒ化ガリウムアルミニウム ,  ヘテロ接合 ,  *量子井戸 ,  密度波 ,  *電子 ,  *正孔 ,  ドリフト ,  キャリア拡散 ,  *摩擦力 ,  二次元 ,  Fermi液体 ,  摩擦
準シソーラス用語： キャリアドリフト ,  位相分解分光法 ,  過渡回折格子法 ,  正孔ガス

分類 (1件)： 13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  (BM03082Y)

タイトルに関連する用語 (9件)： 回折格子 ,  分光法 ,  ドープ ,  GaAs ,  AlGaAs ,  量子井戸 ,  電子 ,  正孔 ,  フリクション