文献

J-GLOBAL ID：201102225364858843   整理番号：11A1028194

SVDベースの画像電子透かしの偽造検証解析

Fake verification analysis of SVD-based image watermarking

著者 (2件)： ZHAO Xing-yang (402 Staff Room, The Second Artillery Engineering Coll., Shaanxi, Xi’an) ,  SUN Ji-yin (402 Staff Room, The Second Artillery Engineering Coll., Shaanxi, Xi’an)
資料名： Jisuanji Yingyong  (Jisuanji Yingyong)
巻： 30  号： 2  ページ： 517-520  発行年： 2010年 
JST資料番号： C2535A  ISSN： 1001-9081  CODEN： JYIIDU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 特異値分解(SVD)ベースの画像電子透かしにおける同じ種類の致命的バグをこの論文で発見した。すなわち,埋込み手順において作り出される同じ秘密鍵を用いて,非電子透かし画像さえ含む他の異なる画像から非常に相関性の電子透かし情報を抽出できる。この新たに発見されたバグは,電子透かしアルゴリズムの偽造検証とした。また同時に,偽造検証の定義と条件の判断を提示した。次に,電子透かし情報が直交行列U,SVDの後のVに関与すると実験結果は明らかにする。そして抽出された電子透かし情報は主としてU,V,および正確単一値の代わりに単一値の分配に関与する。それがSVDベースの電子透かしアルゴリズムが偽造検証のバグを持っている理由である。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *電子透かし ,  *ベース【半導体】 ,  *画像 ,  検証 ,  アルゴリズム ,  特異値分解 ,  埋込み【写像】
準シソーラス用語： 実験結果

分類 (2件)： 計算機網  (JC03000K) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 画像電子透かし ,  偽造 ,  検証 ,  解析