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J-GLOBAL ID：201102227877189737   整理番号：11A0283010

高解像度ショットキーCdTe検出器を使用した診断X線スペクトルのコンプトン(Compton)散乱計測

Compton-scattering measurement of diagnostic x-ray spectrum using high-resolution Schottky CdTe detector

著者 (3件)： MAEDA K ,  MATSUMOTO M ,  TANIGUCHI A
資料名： MEDICAL PHYSICS
巻： 32  号： 6  ページ： 1542-1547  発行年： 2005年 
JST資料番号： O4590A  ISSN： 0094-2405  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： 高解像度 ,  ショット ,  キー ,  CdTe ,  検出器 ,  診断 ,  X線スペクトル ,  散乱計測