JAIN Anil K. について
Michigan State Univ., MI について
FENG Jianjiang について
Tsinghua Univ., Beijing, CHN について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
パターンマッチング について
指紋認識 について
画像分析 について
画像データベース について
法規 について
特徴抽出 について
点 について
評価試験 について
精度 について
性能評価 について
山岳地 について
指紋同定 について
特徴点 について
稜線 について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について