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J-GLOBAL ID:201102233538254449   整理番号:11A0156292

10fs領域の超短パルス多光子顕微鏡法における高次分散の影響と原因

Origin and effect of high-order dispersion in ultrashort pulse multiphoton microscopy in the 10 fs regime
著者 (4件):
資料名:
巻: 49  号: 35  ページ: 6703  発行年: 2010年12月10日 
JST資料番号: B0026B  ISSN: 1559-128X  CODEN: APOPAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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短パルスは高非線形励起を引き起こすことができるので,多光子顕微鏡法における使用に好都合である。しかしながら,大きなスペクトル分散は,補償がない場合,短パルスの利点を容易にそこなうことができる。群遅延分散(GDD),三次分散および第二高調波発生(SHG)信号の強度と帯域幅に及ぼすそれらの影響を解析した。二光子顕微鏡のGDDを補償するために使用されるプリズム対が,超短パルスの二光子吸収確率を劇的に狭くする重大な負の高次分散(HOD)を実際に持ち込むことがわかる。種々のパルス継続時間のGDDとHOD補償後のSHG信号を調査した。HOD補償なしでは,SHGの効率は20fs以下のパルス継続時間に対して著しく低下した。従来の多光子顕微鏡法に共通に使用される場合に近いパルス継続時間である11fs対50fsに対しSHGと二光子励起蛍光(TPEF)信号の強度を実験的に比較した。その結果は,適応位相補償後に,11fsのパルスが50fsのパルスに比べて3.2から6.0倍のTPEF強度と5.1倍のSFG強度を生み出すことができることを示唆した。(翻訳著者抄録)
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分類 (1件):
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非線形光学 
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