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J-GLOBAL ID：201102236697492325   整理番号：11A0169973

DC電圧印加の下でのポリマ碍子の加速劣化特性

Accelerated Ageing Characteristics of Polymer Insulators under DC Voltage Application

著者 (5件)： KONDO Kuniaki (NGK Insulators, Ltd., JPN) ,  NAKACHI Toshiyuki (NGK Insulators, Ltd., JPN) ,  FUJII Osamu (NGK Insulators, Ltd., JPN) ,  HAYAKAWA Tatsuya (NGK Insulators, Ltd., JPN) ,  SUZUKI Yoshihiro (NGK Insulators, Ltd., JPN)
資料名： NGK Review Overseas Edition  (NGK Review Overseas Edition)
号： 33  ページ： 28-31  発行年： 2010年12月24日 
JST資料番号： G0775A  ISSN： 0386-5843  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 諸研究者がすでに報告したように,塩霧劣化試験や傾斜面耐トラッキング試験のような加速劣化試験において,ポリマ碍子はAC電圧印加よりもDC電圧印加のほうが劣化が大きい。本研究では,同一電圧ストレス下でACおよびDC電圧に対してWheel Testによってポリマ碍子表面の劣化特性を比較した。今までの研究の場合と同様に,DC電圧による表面劣化はAC電圧の場合より激しかった。ポリマ碍子表面にAC電圧では見られなかった多数の筋状腐食がDC電圧で発生した。さらに,DC電圧下で3つの異なるシャンク直径のポリマ碍子について塩霧劣化試験を行った。結果として,シャンク直径が大きくなると,劣化も激しくなることを観測した。被試験碍子の間で最大直径の試料はトラッキングが最も激しかった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 直流電圧 ,  機能性高分子 ,  *碍子 ,  加速試験 ,  電気試験 ,  交流電圧 ,  腐食 ,  塩水噴霧試験 ,  *絶縁破壊
準シソーラス用語： *ポリマ碍子 ,  加速劣化試験 ,  表面劣化 ,  劣化試験

分類 (1件)： 絶縁材料  (NA04030W)

引用文献 (4件)：

• K. Kondo, Y. Suzuki, K. Tanaka and O. Fujii, “Aging Characteristics of Polymer Insulators Energized at DC Voltage”, International Conference on Electrical Engineering 2008, Paper No. P-110, 2008.
• G. Heger, H. J. Vermeulen and W. L. Vosloo, “Evaluation of the Performance of HTV Silicone Rubber Exposed to AC & DC Surface Discharges Using the Incline Plane Test”, the 16^th International Symposium on High Voltage Engineering, Paper No. E-14, 2009.
• S. B. Limbo, H. J. Vermeulen, W. L. Vosloo, P. Pieterse and J. P. Holtzhausen, “Aging Performance of EPDM and HTV SR Insulators for HVAC and HVDC Excitation Using the Tracking Wheel Test”, the 16^th International Symposium on High Voltage Engineering, Paper No. E-46, 2009.
• IEC62217-2005, “Polymer Insulators for Indoor and Outdoor Use with a Nominal Voltage>1000V-General Definitions, Test Methods and Acceptance Criteria”.

タイトルに関連する用語 (4件)： DC電圧 ,  印加 ,  ポリマ碍子 ,  加速劣化