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J-GLOBAL ID：201102236747525580   整理番号：11A0784497

未来を担うウェザリング技術 促進耐候性試験法

著者 (1件)： 飯田眞司 (関西ペイント 分析セ)
資料名： スガウェザリング学術講演会要旨  (スガウェザリング学術講演会)
巻： 51st-52nd  ページ： 10-19  発行年： 2010年11月29日 
JST資料番号： L3292A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *加速試験 ,  *耐候性試験 ,  キセノンランプ ,  *材料試験 ,  試験
準シソーラス用語： 促進試験 ,  試験法 ,  試験方法

分類 (1件)： 材料試験一般  (HB01000R)

タイトルに関連する用語 (2件)： 未来 ,  促進耐候性試験