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J-GLOBAL ID：201102241039062388   整理番号：11A0125138

Au/TiO₂触媒のXPSキャラクタリゼーション: 結合エネルギー評価と照射効果

XPS characterization of Au/TiO₂ catalysts: Binding energy assessment and irradiation effects

著者 (2件)： KRUSE Norbert (Univ. Libre de Bruxelles (ULB), Chimie-Physique des Materiaux, CP243 Campus Plaine, B-1050 Bruxelles, BEL) ,  CHENAKIN Sergey (Univ. Libre de Bruxelles (ULB), Chimie-Physique des Materiaux, CP243 Campus Plaine, B-1050 Bruxelles, BEL)
資料名： Applied Catalysis. A: General  (Applied Catalysis. A: General)
巻： 391  号： 1-2  ページ： 367-376  発行年： 2011年01月04日 
JST資料番号： D0691C  ISSN： 0926-860X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線光電子スペクトル(XPS)を用いて,TiO₂(アナターゼ)との比較においてAu/TiO₂触媒の表面組成及び電子構造を調べ,試料の時間依存性X線照射損傷を明らかにした。TiO₂担体上のAuナノ粒子の出現により,TiO₂のみに比べ,Ti2p殻レベルスペクトルの僅かのシフトを生じ,及び価電子バンド及びX線誘起Augerスペクトルの変化が生ずることが分かった。種々のエネルギー関連法で,Au/TiO₂触媒における電荷補正Au4f_7/2結合エネルギーは純粋バルクAuの値よりも0.15~0.45eV低いことが分かった。Au/TiO₂触媒及び純粋TiO₂をX線に曝露すると,Ti4+酸化状態の還元及び表面からの酸素の脱着が起きた。結果として,試料の表面化学組成及び電子構造は時間と共に変化した。X線照射はAu/TiO₂中の電荷移動過程に影響を与え,Auベース触媒のX線誘起損傷のパターンはTiO₂のそれと全く異なり,いくつかの特性は反対の特徴を示した。Au/TiO₂のX線照射の開始でのAu4f_7/2結合エネルギーの減少及びTi³⁺化学種部分の同時増加は,Au粒子への照射で創生された酸素空格子点からの電荷移動の直接的証拠として捉えることができる。Copyright 2011 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *金化合物 ,  *遷移金属触媒 ,  担持触媒 ,  *酸化チタン ,  X線光電子スペクトル ,  電子構造 ,  *X線照射 ,  時間依存性 ,  価電子バンド ,  Augerスペクトル ,  *結合エネルギー ,  ナノ粒子 ,  電荷移動 ,  空格子点
準シソーラス用語： *金触媒 ,  酸素空格子点

分類 (3件)： 貴金属触媒  (CB06122I) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  光化学一般  (CB08010U)

タイトルに関連する用語 (8件)： Au ,  TiO2 ,  触媒 ,  XPS ,  キャラクタリゼーション ,  結合エネルギー ,  評価 ,  照射効果