文献

J-GLOBAL ID：201102241811156873   整理番号：11A2009091

Fe/Ru/Os-ビス(アレーン)錯体の環滑動と多電子酸化還元特性:ハプト数の変化は本当にポテンシャル反転の原因なのか?

Ring-Slippage and Multielectron Redox Properties of Fe/Ru/Os-Bis(arene) Complexes: Does Hapticity Change Really Cause Potential Inversion?

著者 (6件)： LORD Richard L. (Indiana Univ., Indiana, USA) ,  SCHAUER Cynthia K. (Univ. North Carolina, North Carolina, USA) ,  SCHULTZ Franklin A. (Indiana Univ., Indiana, USA) ,  SCHULTZ Franklin A. (Indiana Univ. Purdue Univ. Indianapolis, Indiana, USA) ,  BAIK Mu-Hyun (Indiana Univ., Indiana, USA) ,  BAIK Mu-Hyun (Korea Univ., Chung-nam, KOR)
資料名： Journal of the American Chemical Society  (Journal of the American Chemical Society)
巻： 133  号： 45  ページ： 18234-18242  発行年： 2011年11月16日 
JST資料番号： C0254A  ISSN： 0002-7863  CODEN： JACSAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 8族遷移金属(M)とヘキサメチルベンゼン(hmb)の+2価,+1価,あるいは0価の錯体M(hmb)₂^2+/+/0の酸化還元系列における電子移動メカニズムと熱力学の理論計算による解析が報告された。中心金属は鉄,ルテニウム,オスミウムを取り上げ,理論計算はB3LYP^*/6-31G^**水準で行われた。このような金属ビスアレン酸化還元系にはcの変化が伴い,本報の解析課題は第一,第二電子付着ポテンシャル(E₁°′とE₂°′)の大小関係とハプト数の変化および電子構造からみた酸化還元メカニズムの異同の解析にある。中心金属原子に依存する顕著な違いとして,共に2電子還元挙動を示すオスミウム錯体とルビジウム錯体は,一つ目と二つ目の電子移動のどちらがハプト数を変化させるかという違いを反映し,異なる酸化還元経路を通ることが明らかになった。

シソーラス用語： *鉄錯体 ,  *ルテニウム錯体 ,  *オスミウム錯体 ,  *アレーン錯体 ,  *電子移動 ,  密度汎関数法 ,  錯体 ,  *酸化還元反応 ,  軌道エネルギー ,  分子軌道 ,  フロンティア軌道 ,  電子構造
準シソーラス用語： B3LYP法 ,  サンドイッチ錯体

分類 (2件)： 遷移金属錯体一般  (CE01040N) ,  分子の電子構造  (BH05010Q)

物質索引 (1件)： ヘキサメチルベンゼン

タイトルに関連する用語 (12件)： Fe ,  Ru ,  Os ,  ビス ,  アレーン ,  錯体 ,  滑動 ,  電子 ,  酸化還元特性 ,  ポテンシャル ,  反転 ,  原因