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J-GLOBAL ID：201102243252048030   整理番号：11A0946952

透過型電子顕微鏡のBoersch位相板を用いた軟質及び硬質材料の画像化

Imaging of soft and hard materials using a Boersch phase plate in a transmission electron microscope

著者 (8件)： ALLOYEAU D. (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  HSIEH W.K. (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  KISIELOWSKI C. (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  ANDERSON E.H. (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  HILKEN L. (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  BENNER G. (Carl Zeiss NTS GmbH, Oberkochen, DEU) ,  MENG X. (UC Berkeley, CA, USA) ,  CHEN F.R. (National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 110  号： 5  ページ： 563-570  発行年： 2010年04月 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： 透過型電子顕微鏡 ,  位相板 ,  軟質 ,  硬質材料 ,  画像化