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J-GLOBAL ID:201102244928990440   整理番号:11A0595423

減衰全反射法を使った薄膜の増大した光ルミネセンス分光研究

Enhanced photoluminescence spectroscopy for thin films using the attenuated total reflection method
著者 (4件):
資料名:
巻: 50  号:ページ: 696  発行年: 2011年02月10日 
JST資料番号: B0026B  ISSN: 1559-128X  CODEN: APOPAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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減衰全反射(ATR)により金属薄膜上の蛍光性薄膜の増大した吸収を利用した薄膜の強力なスペクトル光ルミネセンス測定法を紹介する。この光ルミネセンス測定は,薄い基板の導波を通して透過光を避け,ルミネセンス損失を防止する利点がある効果が生じる。低パワーの入射光で励起したATRモードから従来型の光ルミネセンス測定の場合より相当高い蛍光強度が得られ,光ルミネセンスのスペクトルプロファイルが保たれる。(翻訳著者抄録)
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