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J-GLOBAL ID：201102245215538845   整理番号：11A1006227

シンクロトロン粉末回折のキャピラリスピナースキャン法による結晶子サイズ分布の評価

Evaluation of Crystallite Size Distribution by Capillary Spinner-Scan Method in Synchrotron Powder Diffractometry

著者 (3件)： IDA Takashi (Nagoya Inst. of Technol., Gifu, JPN) ,  GOTO Taishi (Nagoya Inst. of Technol., Gifu, JPN) ,  HIBINO Hisashi (Nagoya Inst. of Technol., Gifu, JPN)
資料名： 日本セラミックス協会秋季シンポジウム講演予稿集  (Abstracts. Fall Meeting of the Ceramic Society of Japan)
巻： 23rd (CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.S1-020  発行年： 2010年11月14日 
JST資料番号： L2240A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： X線回折 ,  *粉体 ,  *石英 ,  毛細管 ,  走査 ,  粒度分布
準シソーラス用語： *キャピラリ ,  *シンクロトロンX線回折 ,  スキャン ,  *結晶サイズ分布 ,  粉末

分類 (2件)： X線回折法  (BK01020I) ,  セラミック材料試験  (HB04000M)

タイトルに関連する用語 (5件)： シンクロトロン ,  粉末回折 ,  結晶子サイズ ,  分布 ,  評価