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J-GLOBAL ID：201102245658570857   整理番号：11A1472239

南欧で12年間操業後の結晶シリコンPVモジュールの劣化メカニズムの分析

Analysis of degradation mechanisms of crystalline silicon PV modules after 12 years of operation in Southern Europe

著者 (5件)： SANCHEZ-FRIERA Paula (Universidad de Malaga, Malaga, ESP) ,  PILIOUGINE Michel (Universidad de Malaga, Malaga, ESP) ,  PELAEZ Javier (Universidad de Malaga, Malaga, ESP) ,  CARRETERO Jesus (Universidad de Malaga, Malaga, ESP) ,  DE CARDONA Mariano Sidrach (Universidad de Malaga, Malaga, ESP)
資料名： Progress in Photovoltaics  (Progress in Photovoltaics)
巻： 19  号： 6  ページ： 658-666  発行年： 2011年09月 
JST資料番号： W0463A  ISSN： 1062-7995  CODEN： PPHOED  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PVモジュールの長期信頼度は,発電コストに影響を及ぼす要素の1つで,商用化にとって必要不可欠である。PVモジュールの劣化と信頼度に関する本研究は,大規模な商業PV発電所に基盤を置き,スペイン,マラガで12年間稼働後の12kWp結晶シリコンPV設備の劣化メカニズムの調査が提示されている。分析は,目視検査,赤外線サーモグラフィー,電気性能評価により実行された。目視検査により欠陥が特定され,頻度に応じてランク付けされた。電気性能が,運転期間の始まりと終わりの室外測定で得られた,個別モジュールの性能パラメータの比較により評価された。電気パラメータの目視欠陥と変化の相関が分析された。分析結果は,ガラス風化,セルーEVA(エチレンービニルアセテート)接合面の層間剥離,反射防止被覆とセル金属化グリッドの酸化が,最も頻繁に発生する欠陥であることを示している。初期の光誘起劣化を含む,全ピーク電力損失は11.5%であり,短絡回路電流の損失とほぼ一致していた。

シソーラス用語： *太陽電池 ,  *肉眼検査 ,  *太陽光発電 ,  サーモグラフィー ,  *短絡電流 ,  電気損失 ,  *層間剥離 ,  結晶シリコン太陽電池
準シソーラス用語： 目視検査 ,  赤外線サーモグラフィー ,  短絡回路電流 ,  電力損失

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (6件)： 操業 ,  結晶シリコン ,  PV ,  モジュール ,  メカニズム ,  分析