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J-GLOBAL ID：201102248076662705   整理番号：11A1925920

耐タンパー暗号モジュールの安全性評価を効率化する組込み型相関電力解析

Built-in Determined Sub-Key Correlation Power Analysis for Efficient Security Evaluation of Tamper-Resistant Cryptographic Modules

著者 (3件)： 駒野雄一 (東芝) ,  清水秀夫 (東芝) ,  川村信一 (産業技術総合研 情報セキュリティ研究セ)
資料名： 東芝レビュー  (Toshiba Review)
巻： 66  号： 11  ページ： 31-34  発行年： 2011年11月01日 
JST資料番号： F0360A  ISSN： 0372-0462  CODEN： TORBA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ICカードなどに組み込まれる電子デバイスで暗号処理を実現する暗号モジュールには,内部の秘密鍵の漏えいや機能の改変を防ぐための対策として,耐タンパー技術が用いられる。東芝は,製品の開発段階において耐タンパー技術の安全性評価を効率化することができる組込み型相関電力解析(BS-CPA:Build-in Determined Sub-Key Correlation Power Analysis)を開発した。BS-CPAを利用して暗号モジュールの脆弱(ぜいじゃく)性を効率よく発見することで,工程の後戻りと製品コストを削減することができる。(著者抄録)

シソーラス用語： *情報セキュリティ ,  *暗号装置 ,  ICカード ,  *安全性 ,  安全評価 ,  *解析
準シソーラス用語： *耐タンパ性 ,  *電力解析 ,  電力解析攻撃

分類 (2件)： データ保護  (JD01020V) ,  符号理論  (ND02030R)

引用文献 (5件)：

• (1) 野崎華恵 他. 暗号モジュールの実装攻撃対策技術. 東芝レビュー. 64, 7, 2009, p.28-31.
• (2) Komano, Y. et al. BS-CPA: Built-In Determined Sub-Key Correlation Power Analysis. IEICE Transactions on Fundamentals. E93-A, 9, 2010, p.1632-1638.
• (3) Brier, E. et al.“Correlation Power Analysis with a Leakage Model”. Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES) 2004. LNCS 3156, Cambridge, MA, USA, 2004-08, Springer, p.16-29.
• (4) FIPS 197:2001. ADVANCED ENCRYPTION STANDARD (AES).
• (5) DPA contest.“Welcome to the DPA contest website”. <http://www.dpacontest.org/home/>, (accessed 2011-09-21).

タイトルに関連する用語 (7件)： タンパー ,  暗号モジュール ,  安全性評価 ,  効率化 ,  組込み ,  相関 ,  電力解析