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J-GLOBAL ID：201102248935426024   整理番号：11A0365950

TEM分析によるa-面(11(2)オーバー・バー-0)InGaN/GaN膜の濃度と傾斜

In concentration and tilt of the a-plane (11(2)over-bar-0) InGaN/GaN film by TEM analysis

著者 (5件)： NAKANISHI N ,  KUSAKABE K ,  YAMAZAKI T ,  OHKAWA K ,  HASHIMOTO I
資料名： PHYSICA B-CONDENSED MATTER
巻： 376  ページ： 527-531  発行年： 2006年 
JST資料番号： O5336A  ISSN： 0921-4526  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： TEM ,  分析 ,  InGaN ,  GaN