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J-GLOBAL ID：201102249620079900   整理番号：11A1565053

放射光光電子分光による抵杭変化を示すAl/La_0.6Sr_0.4MnO₃界面の電子状態解析

著者 (9件)： 山本大貴 (東大 大学院) ,  安原隆太郎 (東大 大学院) ,  大久保勇男 (東大 大学院) ,  組頭広志 (東大 大学院) ,  組頭広志 (JST-さきがけ) ,  組頭広志 (東大 放射光機構) ,  尾嶋正治 (東大 大学院) ,  尾嶋正治 (東大 放射光機構) ,  尾嶋正治 (JST-CREST)
資料名： PFシンポジウム要旨集
巻： 28th  ページ： 70  発行年： 2011年 
JST資料番号： L2365A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 電子状態 ,  不均一系反応 ,  *酸化還元反応 ,  シンクロトロン放射 ,  *X線光電子スペクトル ,  ペロブスカイト型結晶 ,  ストロンチウム化合物 ,  マンガン酸塩 ,  ランタン化合物 ,  電気抵抗 ,  アルミニウム ,  *表面準位
準シソーラス用語： 界面反応 ,  *マンガン酸ランタンストロンチウム ,  *界面状態

分類 (1件)： 半導体-金属接触  (BM03084G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 放射光 ,  光電子分光 ,  Al ,  界面 ,  電子状態 ,  解析