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J-GLOBAL ID：201102249794828936   整理番号：11A0309650

イオンエッチングの免疫スキャン電子顕微鏡検査への応用

Application of ion etching to immunoscanning electron microscopy

著者 (2件)： YAHIRO J ,  NAGATO T
資料名： MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE
巻： 67  号： 5  ページ： 240-247  発行年： 2005年 
JST資料番号： O4698A  ISSN： 1059-910X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： イオンエッチング ,  免疫 ,  スキャン ,  電子顕微鏡検査 ,  応用