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J-GLOBAL ID：201102257805850826   整理番号：11A0497273

H₂とHeの高エネルギー電子衝撃イオン化の二重微分断面積におけるBethe二体衝突ピーク

Bethe binary-encounter peaks in the double-differential cross sections for high-energy electron-impact ionization of H₂ and He

著者 (6件)： CHATTERJEE S. (Tata Inst. Fundamental Res., Mumbai, IND) ,  AGNIHOTRI A.N. (Tata Inst. Fundamental Res., Mumbai, IND) ,  STIA C.R. (Universidad Nacional de Rosario, Rosario, ARG) ,  FOJON O.A. (Universidad Nacional de Rosario, Rosario, ARG) ,  RIVAROLA R.D. (Universidad Nacional de Rosario, Rosario, ARG) ,  TRIBEDI L.C. (Tata Inst. Fundamental Res., Mumbai, IND)
資料名： Physical Review. A. Atomic, Molecular, and Optical Physics  (Physical Review. A. Atomic, Molecular, and Optical Physics)
巻： 82  号： 5,Pt.A  ページ： 052709.1-052709.6  発行年： 2010年11月 
JST資料番号： D0323D  ISSN： 1050-2947  CODEN： PLRAAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： H2 ,  He ,  高エネルギー電子 ,  衝撃イオン化 ,  二重微分断面積