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J-GLOBAL ID：201102259565967413   整理番号：11A0492735

タルボ・ロー干渉計によるX線画像技術

X-ray Imaging Technology Using a Talbot-Lau Interferometer

著者 (5件)： 木戸一博 (コニカミノルタエムジー 開発セ) ,  巻渕千穂 (コニカミノルタエムジー 開発セ) ,  清原淳子 (コニカミノルタエムジー 開発セ) ,  米山努 (コニカミノルタエムジー 開発セ) ,  長束澄也 (コニカミノルタエムジー 開発セ)
資料名： Konica Minolta Technology Report  (Konica Minolta Technology Report)
巻： 8  ページ： 82-85  発行年： 2011年01月 
JST資料番号： L4876A  ISSN： 1880-7216  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 従来のX線画像では困難な生体軟部組織の描出が期待されるX線タ...

シソーラス用語： *干渉計 ,...
準シソーラス用語： *Talbot効果

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分類 (3件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  X線技術  (BA02060D) ,  生物物理的研究法  (EA03020V)

引用文献 (10件)：

• 百生敦, 光学, 29(2), 287(2000)
• R. Fitzgerald, Physics Today, 53, 23(2000)
• 本田凡, 医用画像情報学会雑誌, 21(3), 230(2004)
• 長束澄也 他, Konicaminolta Tech. Rep., Vol.2(2005)
• P. Pfeiffer et al., Europhysics News, 37, 13(2006)

タイトルに関連する用語 (2件)： タルボ・ロー干渉計 ,  X線画像