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J-GLOBAL ID:201102260434657948 整理番号:11A0309450
現在の通信システムおよび検出装置で使用される半導体レーザーの信頼性
Reliability of semiconductor lasers used in current communication systems and sensing equipment
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著者 (1件):
FUKUDA M
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名寄せID(JGPN) 201550000273739290 ですべてを検索
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資料名:
MICROELECTRONICS RELIABILITY
MICROELECTRONICS RELIABILITY について
JST資料番号 O4684A ですべてを検索
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巻:
47
号:
9-11
ページ:
1619-1624
発行年:
2007年
JST資料番号:
O4684A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
その他 (ZZZ)
言語:
英語 (EN)
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