抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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CIP洗浄は表面から細菌を完全に除去して食品加工ラインの衛生を確保しなければならないが,多数の残存微生物がCIP後に観察されている。脱落した微生物の一部が後工程で再-付着するとの仮説を立て,加工ラインに沿って再-付着の状況を検討した。その結果,再-付着現象は現実にあり,この状況は無視できないことが分った。食品加工及びCIP洗浄の工程は多様ではあるが,流れのパターンが重要な役割を果しており,再循環や減速の流れが局在するゾーンで細菌胞子の再-付着が促進される。しかし胞子再-付着は,CIP中にホットな水酸化ナトリウムと接触する環境によって胞子表面が傷害を受けるため,限定されたものになると見られる。ホットな水酸化ナトリウムは胞子及び細菌の栄養細胞の不活性化に特に有効で,再-付着細胞の多くは食品を再汚染することはない。それにもかかわらず,工程ラインの汚染リスク抑止のため,洗浄戦略は再-付着現象を考慮して構築すべきである。