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J-GLOBAL ID：201102263203347899   整理番号：11A1159871

0.18μmCMOS技術における6nsデッドタイムをもつアフターパルシング効果の無い小型能動再充電単一光子検出器

A Miniature Actively Recharged Single-Photon Detector Free of Afterpulsing Effects with 6ns Dead Time in a 0.18μm CMOS Technology

著者 (2件)： NICLASS Cristiano (Toyota Central Res. & Dev. Labs, Inc., Aichi, JPN) ,  SOGA Mineki (Toyota Central Res. & Dev. Labs, Inc., Aichi, JPN)
資料名： Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻： 2010  ページ： 340-343  発行年： 2010年 
JST資料番号： C0829B  ISSN： 0163-1918  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 有害なアフターパルシング効果の無い,6nのきわめて短いデッドタイムをもつ小型CMOS単一光子検出器を述べた。この結果は,最先端HV0.18μm CMOS技術を利用し,新しい受動クエンチング及び能動再充電回路を導入することにより得た。後者は,単一光子アバランシェダイオードの寄生容量を機能的なキャパシタに変え,したがって,回路面積に関するペナルティを犯すことなく,光子検出のクエンチング及び再充電相間の明確なホールドオフ時間の生成を可能にした。定常状態光子計数に関して,116dBのダイナミックレンジを得た。

シソーラス用語： *光検出器 ,  *光子計数 ,  不感時間 ,  *CMOS構造 ,  効果 ,  *アバランシェフォトダイオード ,  ダイナミックレンジ ,  電気回路 ,  充電
準シソーラス用語： 単一光子検出器 ,  アフターパルシング効果 ,  フロントエンド【回路】 ,  再充電

分類 (2件)： 光導電素子  (NC03083X) ,  測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (4件)： デッドタイム ,  アフターパルシング効果 ,  再充電 ,  単一光子検出器