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J-GLOBAL ID：201102264016699605   整理番号：11A0813985

微小EDMプロセスの材料除去と破壊検出

Material Removal and Fracture Detection in micro-EDM Processes

著者 (8件)： MAHARDIKA Muslim (Gadjah Mada Univ., Yogyakarta, IDN) ,  PRIHANDANA Gunawan Setia (Keio Univ., Yokohama, JPN) ,  PRIHANDANA Gunawan Setia (Univ. Malaya, Kuala Lumpur, MYS) ,  ENDO Takashi (Keio Univ., Yokohama, JPN) ,  SUYITNO (Gadjah Mada Univ., Yogyakarta, IDN) ,  ARIFVIANTO Budi (Gadjah Mada Univ., Yogyakarta, IDN) ,  SUDIARSO Andi (Gadjah Mada Univ., Yogyakarta, IDN) ,  MITSUI Kimiyuki (Keio Univ., Yokohama, JPN)
資料名： Key Engineering Materials  (Key Engineering Materials)
巻： 462/463 Pt.2  ページ： 1092-1096  発行年： 2011年 
JST資料番号： D0744C  ISSN： 1013-9826  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 微小放電加工(微小EDM)は,プロセスが被加工物の硬度と独立し,その熱伝導率と融点のみに依存し,簡単な形状の工具電極を用いて,非常に複雑な幾何学的形状の材料の加工に使用できるので,微小加工の有望な方法である。微小EDMプロセスでは,それが,放電ギャップ,チャージ電圧,キャパシタンスと工具電極摩耗などの多くのパラメータと関係するので,放電パルスエネルギーの形成は,複雑な現象である。本論文では,微小EDMを用いた真鍮を加工中の放電パルスエネルギー変化を検出するため,アコースティックエミッション(AE)センサを使用した。微小EDMプロセスの放電パルスエネルギーは,AE信号の最大値に比例し,AE信号を,凝着プロセス,2次放電パルスと破壊プロセスの監視に使用できる。その結果,この監視システムを,加工時間を延ばす凝着の検出と工具電極が摩耗し,新しいものと交換が必要な時の検出に使用できるので,AE信号監視システムによって,より良い加工結果を得ることができた。

シソーラス用語： *放電加工 ,  除去 ,  黄銅 ,  アコースティックエミッション ,  センサ ,  破壊 ,  信号 ,  加工時間 ,  工具電極 ,  工具摩耗 ,  監視 ,  放電ギャップ ,  *マイクロ放電加工 ,  材料除去 ,  アコースティックエミッションセンサ ,  時間 ,  加工条件 ,  条件 ,  機械的性質 ,  性質 ,  間隙 ,  長さ ,  幾何学量
準シソーラス用語： AEセンサ ,  AE信号 ,  オンライン監視

分類 (1件)： 特殊加工  (QC04000Y)

タイトルに関連する用語 (5件)： 微小 ,  EDM ,  プロセス ,  材料除去 ,  破壊