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J-GLOBAL ID:201102264171883838   整理番号:11A0928476

二次計画法と最も近い近傍分類装置に基づくアナログ回路故障診断のための新規戦略

New strategy for analogue circuit fault diagnosis based on support vector machines and nearest neighbor classifier
著者 (2件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 45-50  発行年: 2010年 
JST資料番号: C2448A  ISSN: 0254-3087  CODEN: YYXUDY  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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アナログ回路故障診断と位置の問題点に焦点を合わせて,本論文は,二次計画法分類装置(SVC)と最も近い近傍(NN)分類装置を結合することによって,故障診断の新規戦略を提案した。SVCを用いて,高い次元故障サンプルを分類して,NN分類装置を用いて,重複したサンプルを認識した。最初に,「1-v-r」SVCを利用して,故障サンプルをトレインして,トレーニングの後,パラメータを故障辞書として保存した。第二に,試験ステージにおいて,SVCまたはNN分類装置を採用して,未知試料を診断するために,アルゴリズムの結果に依存した。ここで提案した分類装置は,単純であるが,固定した構造を有した。二つのアナログ回路のためのシミュレーションは,提案した故障分類装置の性能が従来の「1-v-r」SVCのものよりも優れていて,「1-v-1」SVCのそれに近接していることを明らかにして,消費されるテスト時間は,著しく「1-v-1」SVCのものより少なくて,この提案方法は,アナログ回路を診断するために好適であった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST
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分類 (1件):
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システム設計・解析 

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