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J-GLOBAL ID：201102266415902590   整理番号：11A1456178

オープンループ電位顕微鏡による液中の異なる表面電荷を持つ粒子について定量的な電位測定

Quantitative potential measurements of nanoparticles with different surface charges in liquid by open-loop electric potential microscopy

著者 (3件)： KOBAYASHI Naritaka (Frontier Sci. Organization, Kanazawa Univ., Kakuma-machi, Kanazawa 920-1192, JPN) ,  ASAKAWA Hitoshi (Bio-AFM Frontier Res. Center, Kanazawa Univ., Kakuma-machi, Kanazawa 920-1192, JPN) ,  FUKUMA Takeshi (Frontier Sci. Organization, Kanazawa Univ., Kakuma-machi, Kanazawa 920-1192, JPN)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 110  号： 4  ページ： 044315  発行年： 2011年08月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 局所的な電位分布は,固液界面において物理的,化学的および生物学的プロセスにおいて重要な役割を果たしている。しかし,液中の局所電位分布の測定は長年の課題とされ,これが様々な界面現象の理解を妨げてきた。最近,この問題を克服する方法{Kobayashi他,Rev.Sci.Instrum.81,123705(2010)]を開発したが,これはオープンループ電位顕微鏡(OL- EPM)と呼ばれる。ここで,液体中の局所電位分布の定量的な測定へのその最初の応用を示した。OL-EPMにおいて交流のバイアス電圧をチップと試料間に印加し,静電気力により誘導されされた第1および第2の高調波のカンチレバー振動の間を検出し,電位値の計算に用いた。電位計算の式において,ここでは,第1および第2高調波の静電気力に対する偏向感度の違いによる誤差をキャンセルする補正係数を導入した。改良法を用いて,異なる電位測定を実施した。異なる型のラテックスビーズ間で測定された電位差は,ゼータ電位差の違いにほぼ対応していて,OL-EPMの定量的な能力を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *液体 ,  表面電荷 ,  顕微鏡 ,  *表面電位 ,  固液界面 ,  電位 ,  ζ電位 ,  *顕微鏡観察 ,  *係数
準シソーラス用語： オープンループ電位顕微鏡 ,  *補正係数

分類 (1件)： 電磁気的量の計測一般  (AD07010R)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電位 ,  顕微鏡 ,  液中 ,  表面電荷 ,  定量 ,  電位測定