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J-GLOBAL ID：201102267828725749   整理番号：11A0366220

中性子反射計測による界面での表面粗度の観察

Observation of surface roughness at the interface by neutron reflectometry

著者 (5件)： INOUE K ,  HIRAYAMA T ,  EBISAWA T ,  TASAKI S ,  HINO M
資料名： PHYSICA B-CONDENSED MATTER
巻： 385  ページ： 659-662  発行年： 2006年 
JST資料番号： O5336A  ISSN： 0921-4526  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： 中性子反射 ,  計測 ,  界面 ,  表面粗度 ,  観察