文献

J-GLOBAL ID：201102268605763696   整理番号：11A0184238

非同時中性子パルスからのキャリア寿命の時間依存変化を含む電離放射線後の一次元pn接合ダイオード光電流の解析解

Analytic 1-D pn Junction Diode Photocurrent Solutions Following Ionizing Radiation and Including Time-Dependent Changes in the Carrier Lifetime From a Nonconcurrent Neutron Pulse

著者 (3件)： AXNESS Carl L. (Sandia National Lab., NM, USA) ,  KERR Bert (New Mexico Inst. Mining and Technol., NM, USA) ,  KEITER Eric R. (Sandia National Lab., NM, USA)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57  号： 6,Pt.1  ページ： 3314-3321  発行年： 2010年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 中性子照射 ,  両極性拡散 ,  キャリア寿命 ,  半導体素子 ,  PN接合 ,  *ダイオード ,  *光電流 ,  *照射損傷

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (7件)： キャリア寿命 ,  時間依存 ,  電離放射線 ,  PN接合 ,  ダイオード ,  光電流 ,  解析解