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J-GLOBAL ID：201102270026173440   整理番号：11A0184231

バルク65nm RHBDフリップ-フロップに関するモンテカルロに基づく電荷共有の研究

Monte-Carlo Based Charge Sharing Investigations on a Bulk 65nm RHBD Flip-Flop

著者 (5件)： UZNANSKI Slawosz (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  GASIOT Gilles (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  ROCHE Philippe (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  AUTRAN Jean-Luc (Aix-Marseille Univ., Marseille, FRA) ,  FERLET-CAVROIS Veronique (European Space Agency, Noordwijk, NLD)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57  号： 6,Pt.1  ページ： 3267-3272  発行年： 2010年12月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 双安定回路 ,  *CMOS構造 ,  *SEU【シングルイベント】 ,  断面積
準シソーラス用語： *フリップフロップ回路 ,  モンテカルロシミュレーション

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (4件)： バルク ,  モンテカルロ ,  電荷共有 ,  研究