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J-GLOBAL ID:201102271586595281   整理番号:11A0488734

材料解析法および評価技術 3 EBSDおよびX線回折による集合組織解析

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巻: 60  号: 12  ページ: 666-675  発行年: 2010年12月30日 
JST資料番号: F0772A  ISSN: 0451-5994  CODEN: KEIKA6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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集合組織の解析に必要な結晶方位の表現法,EBSD(電子後方散乱回折)とX線回折による集合組織解析の原理や特徴について概説した。また両者の方法を比較するため,同一試料による解析結果を紹介した。結晶方位の表現法には,ミラー指数表示及びオイラー指数表示があり,これらの座標系と極点図について説明した。EBSD法の最も代表的な表示法は方位マッピング(逆極点図)であり,解析例として,Al-Mg-Fe合金板の温間及び冷間圧延後の方位マップや1050アルミニウム合金板の集合組織の解析結果を示した。Al-Mg合金の圧延焼なまし板における結晶方位分布関数に関して,X線極点図による計算結果とEBSD法による測定結果を比較した。
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分類 (1件):
分類
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変態組織,加工組織 
引用文献 (24件):
  • 1) 稲垣裕輔,鈴木清一:軽金属,52(2002),494-499.
  • 2) 井上博史,稲数直次:軽金属,47(1997),246-257.
  • 3) 伊藤邦夫:軽金属,43(1993),285-293.
  • 4) B. D. Cullity :新版X線回折要論,松村源太郎訳,アグネ,(1980).
  • 5) 井上博史:軽金属,52(2002),524-529.
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