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J-GLOBAL ID：201102273610366461   整理番号：11A0573033

単一α粒子衝突により形成された6H-SiCダイオード中の拡大ドリフト領域の過渡解析と増大した電荷収集へのその寄与

Transient Analysis of an Extended Drift Region in a 6H-SiC Diode Formed by a Single Alpha Particle Strike and Its Contribution to the Increased Charge Collection

著者 (8件)： IWAMOTO N. (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN) ,  ONODA S. (Japan Atomic Energy Agency, Gunma, JPN) ,  MAKINO T. (Japan Atomic Energy Agency, Gunma, JPN) ,  OHSHIMA T. (Japan Atomic Energy Agency, Gunma, JPN) ,  KOJIMA K. (National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  KOIZUMI A. (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN) ,  UCHIDA K. (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN) ,  NOZAKI S. (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 58  号： 1,Pt.2  ページ： 305-313  発行年： 2011年02月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *α粒子 ,  *炭化ケイ素 ,  ダイオード ,  ドリフト ,  過渡解析 ,  *収集 ,  PN接合 ,  放射線検出器 ,  計算機シミュレーション
準シソーラス用語： *6H-SiC ,  *電荷収集

分類 (1件)： ダイオード  (NC03050R)

タイトルに関連する用語 (7件)： 粒子衝突 ,  6H-SiC ,  ダイオード ,  拡大 ,  ドリフト ,  過渡解析 ,  電荷収集