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J-GLOBAL ID:201102275131627962   整理番号:11A1342255

MiL,SiL及びHiL開発プラットフォームを横断した試験資産再利用の最大化

Maximizing Test Asset Re-Use across MiL, SiL, and HiL Development Platforms
著者 (3件):
資料名:
ページ: 8P  発行年: 2010年 
JST資料番号: D0244B  ISSN: 0148-7191  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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自動車用電子制御装置(ECU)開発のための自動化試験ツールの活用が,特にソフトウェア試験,システム確認及び検証,再帰試験などで増大しつつある。ECU開発業界における挑戦的課題の一つは,ソフトウェア開発の特定フェーズで創成された試験事例は,開発プロセスの上流でも下流でも,再利用が困難であると言うことである。例えば,モデルインザループ(MiL)試験環境のための試験事例をハードウェアインザループ(HiL)試験システムでの再利用は困難である。その結果,リエンジニアリング試験事例や不良品質のソフトウェア関連コストが高くなる。そこでETAS社では,試験事例設計で重要なことは,異なるHiLのハードウェアプラットフォームにおける試験の筋書の共有及び再利用であると考えている。そこで本報では,介在ソフトウェア及び制御系開発における試験資産の最大限の再利用を可能にする新しいフレームワーク及びツール群について報告した。最後に,本法の長所に光を当てた事例研究を紹介した。
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分類 (3件):
分類
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電気式制御機器  ,  電装品  ,  試験方法と試験 

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