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J-GLOBAL ID:201102275440658902   整理番号:11A0998903

澱粉構造のキャラクタリゼーションへの小角X線および中性子散乱技術の応用: レビュー

Application of small-angle X-ray and neutron scattering techniques to the characterisation of starch structure: A review
著者 (3件):
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巻: 85  号:ページ: 281-293  発行年: 2011年05月06日 
JST資料番号: E0961A  ISSN: 0144-8617  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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散乱法は,近代的な結晶学及び顕微鏡との間の空間分解能のギャップを埋めるように,この二つの手法の機能間での長さのスケールで物質を間接的に調べるユニークな可能性を提供する。澱粉科学の小角散乱技術の最も重要な成果は,天然澱粉粒の半結晶性年輪のラメラアーキテクチャの数量化であった。ラメラは構造的にアミロースを組み込んだアミロペクチンの側鎖によって形成され,澱粉に対して広く受け入れられている”液晶”モデルを用いて,水との接触および様々な温度での挙動を説明した。散乱技術は最近,天然および加工澱粉の構造的な要因を調査するために使用されて,酸および酵素加水分解に対する抵抗性を決定する。澱粉ベース食品におけるより複雑な構造の理解に散乱法を適用することを試みた。食品の材料科学で伝統的に広く使用されていないこれらの技術の応用は,魅力的な課題と機会を提供する。食品技術に関するより基本的な科学的手法として,小角散乱法が澱粉加工および消化を支配する構造的メカニズムの理解を目的とするマルチテクニックアプローチとしてふさわしく,また,望ましい構造的モルフォロジーを提供するプロセスの設計および選択を可能にすることを明らかにした。本報では,小角散乱技術を使用した天然澱粉および澱粉ベース系の構造について,これまでの調査と研究の現状を展望した。Copyright 2011 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
分類
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多糖類  ,  澱粉 

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