ONERA, Chatillon, FRA について
EKLUND P. について
ONERA, Chatillon, FRA について
EKLUND P. について
Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE について
ORCHOWSKI A. について
Carl Zeiss NTS GmbH, Oberkochen, DEU について
Ultramicroscopy について
電子エネルギー損失スペクトル について
誘電関数 について
配向 について
依存性 について