文献

J-GLOBAL ID：201102277687790296   整理番号：11A0341492

シンクロトロンX線反射率測定によるダイヤモンド様炭素膜構造の推定

Structure estimation of diamond-like carbon films by synchrotron X-ray reflectivity measurement

著者 (7件)： MATSUI J ,  FUKUDA K ,  KAMAKURA A ,  TSUSAKA Y ,  KAGOSHIMA Y ,  TOYODA N ,  YAMADA I
資料名： NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS
巻： 261  号： 1-2  ページ： 634-638  発行年： 2007年 
JST資料番号： O5033A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： シンクロトロン ,  X線反射率測定 ,  ダイヤモンド様炭素 ,  膜構造 ,  推定