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J-GLOBAL ID：201102277774198263   整理番号：11A0696866

個々のナノワイヤの電子伝達測定のための走査トンネル顕微鏡法

Scanning tunneling microscopy method for electron transport measurement of individual nanowires

著者 (4件)： LIU P. (Inst. of Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  CAI W. (Inst. of Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  WANG Z. (Inst. of Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN) ,  CHEN D. (Inst. of Physics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN)
資料名： Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures  (Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures)
巻： 42  号： 4  ページ： 799-802  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： W1066A  ISSN： 1386-9477  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： ナノワイヤ ,  電子伝達 ,  走査トンネル顕微鏡