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J-GLOBAL ID:201102281094934183   整理番号:11A1903619

液体中試料の電子顕微鏡観察

Electron microscopy of specimens in liquid
著者 (2件):
資料名:
巻:号: 11  ページ: 695-704  発行年: 2011年11月 
JST資料番号: W2059A  ISSN: 1748-3387  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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液体試料の電子顕微鏡観察及びそのアプリケーションにおおける最近の進歩をレビューする。3つの一般に使われている電子顕微鏡の方式は,異なるメカニズムによって像を作りだす。透過電子顕微鏡(TEM)では,エネルギー約60~100keVの定常電子ビームが,0.5μmより薄い試料に照射され,透過電子の位相及び振幅が変わるので,その結果生じる像に含まれる試料に関する情報を読む。走査型TEM(STEM)では,その像は,試料上の集束ビームの走査によって,次々のピクセルからの透過電子の位相と振幅を検出することにより記録される。走査型電子顕微鏡検査(SEM)は,試料の表面を主に約500eV及び30keVの間のエネルギーの集束ビームでスキャンして,次々のピクセルからの後方散乱もしくは2次電子を収集する。それぞれの方式の特徴に応じて,電子顕微鏡法による液体中試料の画像化は,細胞内分子運動,金ナノ粒子標識蛋白質を含む細胞,ヘリコバクター・ピロリ菌,ヒト単核細胞誘導マクロファージ,プリスチン細胞などの表面の画像のような生体系,及びナノ粒子合成及び電気化学堆積のような材料科学のプロセスへの特異的応用が進められている。
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分類 (3件):
分類
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生体の顕微鏡観察法  ,  顕微鏡法  ,  薄膜一般 
タイトルに関連する用語 (3件):
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