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J-GLOBAL ID：201102282678056699   整理番号：11A1547078

ナノブリッジ試験の解析

ANALYSIS OF NANOBRIDGE TESTS

著者 (5件)： Chan Wingkin (Dep. of Mechanical Engineering, Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Hong Kong, Kowloon) ,  Li Jianrong (Dep. of Mechanical Engineering, Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Hong Kong, Kowloon) ,  Wang Yong (Dep. of Mechanical Engineering, Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Hong Kong, Kowloon) ,  Zhang Shengyao (Dep. of Mechanical Engineering, Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Hong Kong, Kowloon) ,  Zhang Tongyi (Dep. of Mechanical Engineering, Hong Kong Univ. of Sci. and Technol., Hong Kong, Kowloon)
資料名： Acta Mechanica Solida Sinica  (Acta Mechanica Solida Sinica)
巻： 23  号： 4  ページ： 283-296  発行年： 2010年 
JST資料番号： C2556A  ISSN： 0894-9166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本報告は,プローブ先端と試験ナノ梁の間で生ずる接着接触変形,および試験ナノ梁を支持する基材またはテンプレートの変形を考慮して,ナノブリッジ試験を解析した。接着接触変形および基材変形を含む解析的変位-荷重関係を,小さい曲げ変形に対して提示した。解析結果を,有限要素解析によって確証した。ナノブリッジ試験データの解析において,接着接触変形および基材変形を考慮しないならば,試験ナノ梁のより低いヤング率値に導く。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *ブリッジ回路 ,  データ ,  曲げ変形 ,  プローブ ,  Young率
準シソーラス用語： *ナノブリッジ ,  試験データ ,  有限要素解析

分類 (1件)： 数理物理学  (BA03000W)

タイトルに関連する用語 (3件)： ナノブリッジ ,  試験 ,  解析