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J-GLOBAL ID：201102287695171916   整理番号：11A0161778

Siナノ結晶/SiO₂界面における窒素およびそれのルミネセンスと界面欠陥への影響

Nitrogen at the Si-nanocrystal/SiO₂ Interface and its influence on luminescence and interface defects

著者 (10件)： HILLER Daniel (Albert-Ludwigs-Univ. Freiburg, Freiburg, DEU) ,  GOETZE Silvana (Max Planck Inst. Microstructure Physics, Halle, DEU) ,  MUNNIK Frans (Forschungszentrum Dresden-Rossendorf e.V., Dresden, DEU) ,  JRVANESCU Mihaela (Univ. Leuven, Leuven, BEL) ,  GERLACH Juergen W. (Leibniz Inst. Surface Modification (IOM), Leipzig, DEU) ,  VOGT Juergen (Univ. Leipzig, Leipzig, DEU) ,  PIPPEL Eckhard (Max Planck Inst. Microstructure Physics, Halle, DEU) ,  ZAKHAROV Nikolai (Max Planck Inst. Microstructure Physics, Halle, DEU) ,  STESMANS Andre (Univ. Leuven, Leuven, BEL) ,  ZACHARIAS Margit (Albert-Ludwigs-Univ. Freiburg, Freiburg, DEU)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 82  号： 19  ページ： 195401.1-195401.9  発行年： 2010年11月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  *ナノ結晶 ,  *界面 ,  *窒素 ,  *表面欠陥 ,  焼なまし ,  アルゴン ,  青方偏移 ,  飛行時間法 ,  二次イオン質量分析 ,  ESR【磁気共鳴】 ,  バンドギャップ ,  透過型電子顕微鏡 ,  *二酸化ケイ素 ,  *光ルミネセンス
準シソーラス用語： サイズ依存性 ,  弾性反跳検出分析 ,  面密度

分類 (2件)： 半導体のルミネセンス  (BM08092S) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (7件)： Si ,  ナノ結晶 ,  SiO2 ,  界面 ,  窒素 ,  ルミネセンス ,  界面欠陥