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J-GLOBAL ID：201102291203114251   整理番号：11A1138057

Ceドープ型W-Cu接点材料の電気破壊特性

Electrical breakdown characteristic of a Ce-doped W-Cu contact material

著者 (3件)： Hu Kewen (School of Materials Sci. and Engineering, Xi ’an Univ. of Technol., Xi’an) ,  Chen Mianzhi (School of Materials Sci. and Engineering, Xi ’an Univ. of Technol., Xi’an) ,  Ye Heng (School of Materials Sci. and Engineering, Xi ’an Univ. of Technol., Xi’an)
資料名： Rare Metals  (Rare Metals)
巻： 29  号： 3  ページ： 261-264  発行年： 2010年 
JST資料番号： C2573A  ISSN： 1001-0521  CODEN： RARME8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ce(1.5重量%)でドープしたW-Cu複合粉体を,メカニカルアロイング(MA)によって調製して,W-Cu接点材料を,電気真空炉におけるホットプレッシングによって製造した。Ceドープ型W-Cu合金の微細構造,電気伝導率,硬度,および絶縁破壊電圧を測定して,粉末冶金によって調製した従来のW-Cu合金と比較した。この結果は,ミクロ構造精密化と均一性がCeドープ型W-Cu接点材料の破壊挙動とアーク安定性を向上することができることを示した。また,Ceドープ型W-Cu接点材料は,伝播アーク特性を示して,それはアーク浸食に対して有益であった。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *接点材料 ,  電力 ,  破壊 ,  粉体 ,  メカニカルアロイング ,  真空炉 ,  粉末冶金 ,  アーク特性 ,  電圧 ,  硬度 ,  電気伝導率 ,  微細構造
準シソーラス用語： 電気 ,  絶縁破壊電圧

分類 (1件)： 電気接点  (NA05070V)

タイトルに関連する用語 (5件)： Ce ,  ドープ ,  Cu ,  接点材料 ,  破壊特性